Wir sind als Aussteller und Vortragende auf der Konferenz Embedded Testing 2017 vom 21.-22.6.17 in Dornach bei München. Besuchen Sie unseren Stand und informieren sie sich wie Sie durch einen ganzheitlichen modellbasierten Ansatz aus ein und demselben Modell sowohl SW-Code als auch Testfälle generieren können.
Freuen Sie sich außerdem auf den Vortrag von Stephan Kösters am 21.06.2017 um 11:15 mit dem Titel: „Embedded4You Kooperationsprojekt: ReTeC-Reduction of Test Complexity“.
Stephan Kösters stellt in dem Vortrag vor, wie aus einem Modell nach Analyse und Aufbereitung sowohl automatisch Programm-Code als auch Testfälle für den modellbasierten Test zur Simulation dessen erzeugt werden können.
Interessenten können auf Anfrage eine vergünstigte Eintrittskarte erhalten, dazu senden Sie bitte einfach eine Mail an AFRA(thomas.franke.ext@afra.de) mit dem Betreff „Ich möchte gerne teilnehmen“.
Weitere Informationen: www.embedded-testing.de